SM-124LW 0~20mm表盤式厚度表日本TECLCOK得樂
型號: SM-124LW
品牌：日本TECLCOK得樂
*小刻度: 0.01 mm
測量范圍: 20mm
精度: ±20um
平面度: ーum
表盤刻度: 0-50-100
測量力:3.5N以下
上測頭:φ 3.2球測頭
下測頭:φ 3.2球測頭
重量:270g
測頭參考圖片:
表盤式厚度表 別名：
表盤式厚度計、手握式厚度表、厚薄表、測厚計
表盤式厚度表 產(chǎn)品說明：
*小刻度有0.01
測量厚度可達(dá)20mm
部分量表采用陶瓷測頭，與工作接觸面為陶瓷，可延長使用壽命。另外，還有FE（材質(zhì)為加硬SK4）可供選擇。
根據(jù)測頭的形狀不同，可分為標(biāo)準(zhǔn)型和其它型，
表盤式厚度表 用途：
應(yīng)用廣泛，可測量紙張、頭發(fā)、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。
表盤式厚度表 測頭：
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標(biāo)準(zhǔn)型
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LS型
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LW型
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3A型
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FE型
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AT型
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材質(zhì)：陶瓷
上測頭：??10mm平面
下測頭：??10mm平面
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材質(zhì)：上測頭為鋼球，下測頭為陶瓷
上測頭：??3.2mm球形
下測頭：??10mm平面
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材質(zhì)：上、下測頭均為鋼球
上測頭：??3.2mm球形
下測頭：??3.2mm球形
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材質(zhì)：加硬SK4
上測頭：??5mm平面
下測頭：??5mm平面
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材質(zhì)：加硬SK4
上測頭：??10mm平面
下測頭：??10mm平面
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材質(zhì)：鋼加特殊鍍層
上測頭：??10mm平面
下測頭：??10mm平面
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型號
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*小刻度
mm
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測量范圍
mm
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精度
um
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平面度
um
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表盤刻度
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測量力
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上測頭
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下測頭
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重量
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測頭參考圖片
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SM-124
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0.01
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20
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±20
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5
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0-50-100
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3.5N以下
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φ 10平測頭
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φ 10平測頭
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270
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標(biāo)準(zhǔn)型
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SM-124LS
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0.01
|
20
|
±20
|
ー
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0-50-100
|
3.5N以下
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φ 3.2球測頭
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φ 10平測頭
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270
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LS
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SM-124LW
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0.01
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20
|
±20
|
ー
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0-50-100
|
3.5N以下
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φ 3.2球測頭
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φ 3.2球測頭
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270
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LW
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